MFSシリーズ copy

マイクロフォーカス X,Y,Z可動式テーブル
マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル。
X線源は90kV・100kV・130kV・150kVから選択が可能で、幾何学倍率最大約70倍までの高拡大撮影を実現しています。
どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?

検査対象物例

BGA、IC リレー、スイッチ、電池、コンデンサ  など

用途に合ったX線出力から選定が可能。

拡大撮影を実現しています。 どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル。X線源は90kV・100kV・130kV・150kVから選択が可能で、幾何学倍率最大約70倍までの高拡大撮影を実現しています。 どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?

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キャプションが入ります。

マイクロフォーカスX線発生装置により鮮明な画像を得られます。

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  1. マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル
  2. マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル
  3. マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル

拡大撮影を実現しています。 どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル。拡大撮影を実現しています。 

X線I.I.カメラの採用により明るい画像が得られます。

中見出し

マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル。
X線源は90kV・100kV・130kV・150kVから選択が可能で、幾何学倍率最大約70倍までの高拡大撮影を実現しています。 どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?マイクロフォーカスX線を搭載した高性能モデル。X線源は90kV・100kV・130kV・150kVから選択が可能で、幾何学倍率最大約70倍までの高拡大撮影を実現しています。 どのような部分まで見えるかなど例を紹介することは可能でしょうか?

小見出し

このコピーはダミーです。X、Y、Z軸での可動式テーブルを採用し、X線照射角度を検査対象物によって変更可能です。X線の照射角度の調整が可能なため、1台で規格の異なる製品に対応することができます。特徴を説明するコピーが入ります。特徴を説明するコピーが入ります。特徴を説明するコピーが入ります。

小見出し

このコピーはダミーです。X、Y、Z軸での可動式テーブルを採用し、X線照射角度を検査対象物によって変更可能です。X線の照射角度の調整が可能なため、1台で規格の異なる製品に対応することができます。特徴を説明するコピーが入ります。特徴を説明するコピーが入ります。特徴を説明するコピーが入ります。

画像処理装置はパソコンの為各計測、画像保存が容易に行えます。

中見出し

ョイスティック又はパソコンでの操作を選んでいただけます。操作が簡単なため、特徴を説明するコピーが入ります。また、オプションにてCT撮影が可能です。
どのような場合にCT撮影が必要かなど説明するコピーが入ります。このコピーはダミーです。

中見出し

どのような場合にCT撮影が必要かなど説明するコピーが入ります。このコピーはダミーです。どのような場合にCT撮影が必要かなど説明するコピーが入ります。このコピーはダミーです。

 

仕様

通常のx線検査装置とCTスキャンの違いを説明するコピーが入ります。このコピーはダミーです。このコピーはダミーです。このコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーですこのコピーはダミーです

装置名 MFS 4090L MFS 4090 MFS 4100 MFS 4130 MFS 4150
最大管電圧 90Kv        
最大管電流          
最小X 線焦点寸法 15μm 5μm
資料テーブル寸法 300mm×300mm
X 線センサ 4インチI.I.カメラ 4/2インチ切り替え型I.I.カメラ
入力電源 AC100V 50Hz/60Hz

用途

半導体関連 IC パッケージングボイド状態など
実装基板関連
  • IC ワイヤーの断線、湾曲、接続状態など
  • IC ダイ部のボイド状態など
  • BGA、μBGA、フリップチップのソルダーバンプ接合状態、ボイドなど
  • パワーモジュールのチップ下部ボイド状態など
電子部品関連 リレー、スイッチなどの接点接続状態など
   
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